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芯片引腳共面性測試儀PZ-430D操作展示品智創(chuàng)思

發(fā)布時間:2025-03-25點擊次數:352

測量原理:

通過線激光對芯片有焊錫球及的表面,或者IC上的引腳面進行掃描,采集出三維點集數據,并由軟件處理生成工件的3D圖形,通過軟件算法提取3D圖中每個焊錫球的最高點或者點,再用所有最高點或者點生成一個平面,并計算出平面度值即為焊錫球或者引腳共面性。

 

3.jpg

 

儀器結構:

設備采用固定龍門式XYZ三軸運動結構,內部主體框架為大理石,可以保證穩(wěn)定的力學結構。托盤和被測工件可放在工作臺玻璃上,前后運動至測量區(qū)域,線掃激光頭和視覺物鏡組合體可以沿著左右運動掃描測量,并可以上下調焦以便適應不同高度面的測量。

 

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